上海
作為中國電子設計領域頗具影響力的年度盛會，第十屆電子設計創新大會（EDICON China 2025）將于4月23日-24日在北京國家會議中心盛大啟幕。這場以射頻/微波/無線和高速/高頻設計領域為核心的活動盛宴，匯聚國內外頂尖專家與企業領袖，覆蓋的多產業鏈議題。EDICON China特設會議和展覽兩部分，是洞悉前沿技術與未來趨勢的絕佳窗口。
愛德萬測試主題演講
在射頻芯片測試日趨復雜化的今天，射頻芯片的發展趨勢正向著更高頻率，更寬帶寬，更高集成度以及更多端口的方向快速邁進，尤其是未來20GHz 以下頻段的大帶寬應用場景將顯著增加。這對ATE量產測試提出了前所未有的挑戰。
在本次大會上，愛德萬測試中國的業務發展高級經理孫佳焱將發表主題為“面向新一代射頻芯片技術趨勢的ATE量產測試方案“的主題演講，他將全面解析愛德萬測試最新推出的基于V93000 EXA Scale平臺的Wave Scale RF20ex新射頻測試板卡, 展示其多維度技術突破。WSRF20ex 支持高達20GHz 頻率和2GHz 帶寬，可有效應對未來射頻芯片測試領域的嚴苛技術需求，助力產業更好地迎接高速發展的射頻時代。
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